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高精度超声测厚仪
产品型号：BUT650
简介：

BUT650高精度超声波测厚仪,0.001mm高分辨率测厚；0.15mm超薄厚度检测

产品介绍 技术参数 常见问答 资料下载

高精度超声测厚仪的应用场景、测量模式如下：

场景


● 0.001mm高分辨率测厚

● 0.15mm超薄厚度检测


测厚模式：


● I-E模式：底波和发射波的差值测厚。
● E-E模式：二次回波和一次回波的差值测厚。
● AUTO模式

探头频率


● 常规测量：1~10M
● 0.15~1mm薄件测量：15M，20M


优点

● 准确度高：测值读数达到微米级。
● 薄极限测厚，测值薄至0.15mm。
● 快速测量：每次测量只需几秒钟。

● 校准容易。






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